Validity and reliability testing of organizational justice scale:
Gurbuz, Sait (Marian Van Os Centre Of Expertise Entrepreneurship); Mert, İbrrahim Sani
RFID in Retail: New approaches, new viewpoints
Sander de Ridder; Jan Kroon; Frans van der Reep (Lector); Christian Vrijlandt
In search of mentor teachers' reflective moments
Frank Crasborn (Docent); Paul Hennissen (Lector); Niels Brouwer
Kracht versus Vermogen. Een onderzoek naar de nieuwste inzichten in training.
Annelies Simons (Begeleider); Ineke Smits (Begeleider); Karin Brekelmans (Student); Dorien Schnackers (Student); Marlies Schillings (Begeleider); Mark Haagen (Student); Vivian Engelen (Student)